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偏光顯微熔點(diǎn)儀 XRD

發(fā)布時(shí)間：2012-08-22

XRD型偏光顯微熔點(diǎn)儀是專為材料學(xué)、生物化學(xué)、冶金學(xué)、有機(jī)化學(xué)、高分子及納米材料科學(xué)而研制。與光學(xué)或電子顯微鏡配合使用，在微觀上觀察記錄其融化、升華、結(jié)晶過(guò)程中的狀態(tài)和各種變化。